Crystal Instruments Spider-101i HALT/HASS 测试控制器

HALT（Highly Accelerated Life Test，高加速寿命试验）是在产品开发阶段用于确定并加速产品可靠性的应力试验，主要面向电子设备。HALT 产生的数据帮助工程师找出产品设计中的缺陷或薄弱环节。HASS（Highly Accelerated Stress Screen，高加速应力筛选）则是在 HALT 基础上建立的生产筛选试验。两者都通过施加模拟甚至超过产品正常使用时环境条件的应力，暴露设计弱点，从而使工程师能够针对性地加以改进、提升产品可靠性。

典型经过 HALT/HASS 流程的产品包括手机、PDA、电视机、印制电路板、电阻、电容与二极管等。在流程中这些产品会承受环境应力的模拟，条件涵盖温度循环、重复冲击、电源裕度（power margining）与电源循环等。

Spider-101i 是 Crystal Instruments 专为 HALT/HASS 应用设计的控制器。其模块配备四路电压/IEPE 输入通道，另设用于温度和湿度测量的测量通道；输出通道可产生多种信号输出波形，用以驱动电动振动台、液压振动台或气锤。六路温度控制输出与四路湿度控制输出共同构成一套强力的 HALT/HASS 试验箱控制方案。控制器还内置隔离数字 I/O 接口。

在控制逻辑上，可编程的振动斜率、gRMS 电平与试验时长都与温度和湿度控制剖面同步，使振动应力与热应力按同一日程协同施加。温度控制稳定后，精度典型可达 ±0.5 °C。凭借把振动控制与温湿度控制整合于同一台仪器的设计，Spider-101i 让 HALT/HASS 试验箱在开发验证与量产筛选两个环节都能获得一致的应力施加与数据记录。