Crystal Instruments HALT/HASS 高加速寿命与筛选测试服务
在 -100~+200 ℃、>50 ℃/min 温变、最高 60 gRMS 六自由度重复冲击下,数小时内定位设计与制造薄弱点。
98 kN 水冷振动系统配 1200×1200 mm 滑台,另有 -70~150 ℃ 温湿度箱与 AGREE 三综合箱,按军用与行业标准测试。
本页介绍 Crystal Instruments 原厂实验室的测试能力,西科创业协助国内客户对接委托测试与报告解读。
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CI 环境试验室提供完整的振动、温度、湿度以及综合环境测试服务,设备每年更新并采用多分辨率谱分析等专利技术,由专职工程师按军用标准、ISO、ASTM 及各类行业标准搭建与执行测试。
单轴振动的主力平台是 H10056A-PA3110-HST1200M 水冷系统:峰值正弦推力 98 kN、随机推力 98 kN rms、6 ms 冲击 196 kN,配 1200×1200 mm 高压滑台,频率范围 5–2400 Hz,连续位移 51 mm,最大静载荷 1500 kg,适合中大型电子部件、连接器、手持设备与机械组件;小型件由 5.88 kN 风冷系统 L0620M-PAS106 承担,频率 5–5000 Hz,最大静载荷 200 kg。
多轴方面采用 Sentek MA-1000-4H 风冷同时三轴系统,每轴正弦峰值 9.8 kN,频率 5–2000 Hz,最大静载荷 70 kg,配空气隔振脚,可直接满足 MIL-STD-810G,测试时间最多缩短三分之二;试件过大时改用 MESA 双台方案,Sentek M5044A 正弦与随机推力 49 kN、6 ms 冲击 98 kN,最大静载荷 1000 kg。
温度与湿度覆盖 -70 ℃ 到 150 ℃。THV-1200-5 箱容积 1200 L、内尺寸 1100×1100×1000 mm,升降温速率 5 ℃/min,湿度 20–98 %RH;AGREE 箱(同样 5 ℃/min)与 32 kN 振动台及 800×800 mm 低压滑台组合,可在同一箱内同时施加温度、湿度与振动并出具统一报告。
| 最大正弦推力(水冷台) | 98 kN |
|---|---|
| 最大随机推力(水冷台) | 98 kN rms |
| 6 ms 冲击推力(水冷台) | 196 kN |
| 滑台尺寸(水冷台) | 1200 × 1200 mm |
| 频率范围(水冷台) | 5–2400 Hz |
| 最大静载荷(水冷台) | 1500 kg |
| 最大加速度(水冷台) | 980 m/s²(100 g)峰值正弦 |
| 最大正弦推力(小型风冷台) | 5.88 kN |
| 频率范围(小型风冷台) | 5–5000 Hz |
| 最大静载荷(小型风冷台) | 200 kg |
| 三轴系统单轴正弦峰值推力 | 9.8 kN |
| 三轴系统频率范围 | 5–2000 Hz |
| 三轴系统最大静载荷 | 70 kg |
| MESA 系统正弦/随机推力 | 49 kN |
| 温度范围(THV-1200-5) | -70 ~ 150 ℃ |
| 湿度范围(THV-1200-5) | 20–98 %RH |
| 升降温速率 | 5 ℃/min |
| 温箱内容积(THV-1200-5) | 1200 L |
| 温箱内尺寸(THV-1200-5) | 1100 × 1100 × 1000 mm |
| AGREE 箱振动台推力 | 32 kN |
| AGREE 箱滑台尺寸 | 800 × 800 mm 低压滑台 |
参数摘自原厂资料。同一型号常有选配与衍生版本,下单前请与我们确认最终配置。
关键看测试频次、量级和是否需要对外的资质报告。若产品量产、需要按固定条件长期反复筛选,自建试验台更经济;若是一次性的设计验证、产品认证、客户送审,或需要一份中立、可追溯的第三方报告,则委托测试更合适。委托的好处是省去设备资本开支与维护,且能用到自购置成本极高的大系统,例如 44,000 lbf 水冷电动台、六自由度 HALT 试验箱和温度湿度振动综合环境箱,这些设备只为个别项目自购并不划算。此外,大尺寸或超重试件、多标准交叉、需要夹具定制与失效分析的项目也更适合交给实验室。实务中很多企业采用“自有台做日常筛选、关键节点委托第三方”的组合方式。
HALT(Highly Accelerated Life Test,高加速寿命试验)用于产品设计/开发早期,用逐步加大的应力(热步进、冷步进、快速热循环、振动步进、综合环境)在数小时内逼出设计薄弱环节,它不做 pass/fail 判定,而是找出最弱的地方供设计改进。HASS(Highly Accelerated Stress Screen,高加速应力筛选)用于已定型、进入量产的产品,用超过规格但不超过 HALT 极限的应力筛查制造与工艺缺陷,防止到客户手里出现开箱即坏(out-of-box failure)。简言之:研发阶段用 HALT 找设计缺陷,量产阶段用 HASS 筛制造缺陷。CI 的 HALT 试验箱覆盖 -100 ℃ 至 +200 ℃、升降温速率 60 ℃/min、六自由度重复冲击最高 60 gRMS,并配 6 个响应加速度计与 18 个辅助热电偶。
先根据装备在全寿命周期中会遇到的运输、使用与储存环境,选定对应的方法与程序,常见的是 Method 514.7(振动)和 516.7(冲击),另有高温 501.6、低温 502.6、温度冲击 503.6、湿度 507.6、盐雾 509.4 等。实验室把试件装夹到振动台或冲击台上,用控制器按标准规定的谱形、量级和时长施加激励,并在关键位置布加速度计记录响应。CI 实验室配备单轴与 MIMO 三轴振动系统,三轴同时激励可满足 MIL-STD-810G 要求并把测试时间缩短约三分之二;也提供温度、湿度、振动与高度综合环境(Method 520.4/520.5)。除整机 810 外,还承接元件级 MIL-STD-202、MIL-STD-750 等方法。
告诉我们测试对象与要满足的标准,工程师一个工作日内给出配置清单与预算区间。
在 -100~+200 ℃、>50 ℃/min 温变、最高 60 gRMS 六自由度重复冲击下,数小时内定位设计与制造薄弱点。
洛杉矶实验室装备两台 OVS HALT 箱、Sentek M6044A 台与 LAS 200 高度箱,覆盖 HALT/HASS、振动与空间环境试验。
覆盖 MIL-STD-810 与 MIL-STD-202 的温度、湿度、冲击、振动、盐雾军标环境试验
把测试对象、要满足的标准和实验室条件告诉我们,一个工作日内给出选型建议与配置清单。