Crystal Instruments Spider-80Ti 温度测量系统
动态信号分析仪 · Crystal Instruments
Spider-80Ti

Crystal Instruments Spider-80Ti 温度测量系统

每前端 16 通道 24 位温度测量,支持 PT100 RTD 与 K 型热电偶,系统最多扩展至 1024 通道同步采样。

输入通道
每前端 16 通道,可扩展至 1024 通道
采样率
0.3125、0.625、1.25、2.5 … 512 S/s 可选
A/D 分辨率
24 位 Sigma-Delta
连接器
六针可插拔端子排(每块接两个输入通道)
协议与合规
NIST K-type (ITS-90)

Crystal Instruments Corporation 原厂产品,西科创业中国区供货与服务 · 原厂页面 ↗

产品概述

Spider-80Ti 是 Spider-80Xi 硬件平台中的温度测量前端,用于把温度信号纳入统一的动态测量系统。它支持两类工业中最常用的温度传感器——热电偶与 RTD(电阻温度检测器),每台前端为系统增加 16 个温度测量通道。用户可将前端配置为支持 PT100 RTD 或 K 型热电偶;把配置为 RTD 与配置为热电偶的前端组合使用,即可在同一套 Spider 系统中混用两种传感器。每通道配备 24 位 sigma-delta ADC,并配合用户可配置的非线性校正,在宽温度范围内保证测量精度。

RTD 测量采用三线制接法消除引线误差:两条导线接传感元件一侧、一条接另一侧,通过测量引线电阻并从总电阻中扣除,得到精确温度。RTD 通道支持 0 至 400 Ω 电阻测量、-200 ℃ 至 850 ℃ 测温范围,激励电流源可在 10 µA 至 1.5 mA 间编程,并直接实现 IEC 751 的 RTD 方程,用户可选用标准系数或自定义系数,以适配不同 alpha 值的 RTD。热电偶方面,前端内置等温块与高精度温度传感器完成冷端补偿,配 K 型热电偶时测温范围 -270 ℃ 至 1250 ℃、电压量程 ±80 mV,冷端补偿精度在 0 至 70 ℃ 内为 ±0.25 ℃。两种模式下共模抑制比 115 dB、常模抑制比 105 dB,采样率可在 0.3125 至 512 次/秒之间选择,并支持 1 至 64 点的移动线性平均,每通道还可做增益与偏置校正及多点传感器校正。

Spider-80Xi 机箱提供 4 槽或 8 槽两种选择,可全部插温度前端,也可与 Spider-80Hi、Spider-80Ci、Spider-80SGi 混插组成混合信号采集系统。多个机箱可级联成最多 1024 通道、全部同步采样的系统。机箱内置可拆卸 2.5 英寸固态硬盘(标配 250 GB,可扩至 2 TB),以 NTFS 格式记录数据,支持连续记录或按运行计划、报警限触发、输入触发、数字输入触发等方式记录。

技术参数

Crystal Instruments Spider-80Ti 温度测量系统 — 技术参数
输入通道每前端 16 通道,可扩展至 1024 通道
连接器六针可插拔端子排(每块接两个输入通道)
ADC24 位 Sigma-Delta
RTD 温度范围-200 ℃ 至 850 ℃(-328 ℉ 至 1562 ℉)
RTD 电阻范围0 至 400 Ω
RTD 激励电流10 µA 至 1.5 mA 可编程
热电偶温度范围-270 ℃ 至 1250 ℃(NIST K 型)
热电偶电压范围±80 mV
冷端补偿精度±0.25 ℃(0–70 ℃);±0.75 ℃(-40–70 ℃)
采样率0.3125、0.625、1.25、2.5 … 512 S/s 可选
共模抑制比 CMRR115 dB
常模抑制比105 dB
差分输入阻抗2 MΩ
平均模式移动线性平均 1 – 64 点可选
工作温度-10 ℃ 至 55 ℃(14 ℉ 至 131 ℉)
数据存储可拆卸 2.5 英寸固态硬盘,标配 250 GB,可扩至 2 TB

参数摘自原厂资料。同一型号常有选配与衍生版本,下单前请与我们确认最终配置。

核心特性

  • 每前端 16 通道温度测量,24 位 sigma-delta ADC
  • 支持 PT100 RTD 与 K 型热电偶,可在同一系统混用
  • RTD 范围 -200 至 850 ℃,直接实现 IEC 751 方程
  • 热电偶范围 -270 至 1250 ℃,冷端补偿精度 ±0.25 ℃
  • CMRR 115 dB、NMRR 105 dB,采样率 0.3125–512 S/s 可选
  • 机箱可 4 槽或 8 槽配置,级联扩展至 1024 通道同步采样

典型应用

  • 环境试验箱内的温度同步测量
  • 温湿度与振动混合测试
  • 产品可靠性试验中的多点温度采集
  • 与应变、振动通道混插的混合信号测试
  • 电池、电子元件等发热部件的温度监测

同系列对比

型号输入通道采样率A/D 分辨率动态范围
Spider-80Ti当前 每前端 16 通道,可扩展至 1024 通道0.3125、0.625、1.25、2.5 … 512 S/s 可选24 位 Sigma-Delta
Spider-20 40.48 Hz – 256 kHz,共 58 档(Spider-20HE:512 kHz)120 dBFS(20 V 档);110 dBFS(2 V 档);100 dBFS(0.2 V 档)
Spider-30R 6 通道,24 位 sigma-delta ADC最高 140 dB
Spider-80SG 每前端 8 通道,系统可扩展至 512 通道0.48 Hz – 256 kHz,共 58 档
Spider-80Xi / 80Hi 8(Spider-80Hi / 80Ci)每通道双 24 位 ADC175 dBFS
Spider-HUB

左右滑动查看全部参数

常见问题

应变和温度能不能在同一套系统里采集?

可以。Spider-80Xi 机箱支持混合插卡:Spider-80SGi 前端每台 8 通道,可配 1/4、半桥、全桥应变,并同时测量力、扭矩、压力、加速度、位移等;Spider-80Ti 前端每台 16 通道,支持 PT100 RTD(-200~850 ℃)或 K 型热电偶(-270~1250 ℃)。同机箱内插入不同类型的卡,各类信号同步采样,适合温度-振动耦合或带温漂补偿的应变试验。注意每台 80Ti 前端只能整台配置为 RTD 或热电偶中的一种,需要两种传感器时用两台前端组合。

获取报价与选型建议

告诉我们测试对象与要满足的标准,工程师一个工作日内给出配置清单与预算区间。

先说清楚你要过的标准,再谈设备

把测试对象、要满足的标准和实验室条件告诉我们,一个工作日内给出选型建议与配置清单。